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公共测试平台
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场发射扫描电子显微镜
联系我们设备型号 | ZEISS Sigma 300 |
设备状态 | 已购置 |
主要技术指标 | 加速电压:30 kV 放大倍率:不小于1M 二次电子分辨率:≤1.0nm@15kV,≤1.6nm@1kV 最大电子束流:不小于20nA 束流稳定性:优于0.3%/h 能量范围:20eV-30keV 能量分辨率:Mn、Ka优于129eV(@计数率100,000cps) |
主要功能 | 适用于各种样品(金属、陶瓷、半导体、矿物、生物、高分子和复合材料等)的微观形貌观察、微结构测定和微区成分分析 |
主要特点 | 对于不导电样品,特别是氧化物纳米材料和半导体样品,可直接在超低电压下进行高分辨率观察 |
联系方式 | 杨老师:15858315249 王老师:15068323396 |