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Public Test Platform
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高分辨场发射透射电子显微镜
Contact Us设备型号 | 日本电子 JEM-F200 |
设备状态 | 已购置 |
主要技术指标 | 加速电压:200 kV TEM点分辨率:0.25 nm STEM 分辨率: 0.16 nm 电子枪亮度:4.0×108 A/cm2 srad 洛伦兹模式分辨率:2.5 nm 样品台最大倾角:±90° 配套三维重构、EDS模块、离子减薄设备等 |
主要功能 | 材料形貌、电子衍射、高分辨图像及成分分析 材料原子结构分析(重、轻原子) 三维结构分析 磁畴结构分析 |
主要特点 | 融合了卓越的高分辨率STEM 和 TEM 成像, 利用智能扫描引擎、基于多个STEM 探测器的四通道合并技术,以及微分相位衬度(DPC/iDPC)成像技术,可以快速、准确地分析材料的结构和成分信息 |
联系方式 | 杨老师:15858315249 王老师:15068323396 |